Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT810 Schottky Field Emission

Универсальность и высокое пространственное разрешение сочетаются с автоматизацией в FE-SEM серии JSM-IT810.
Встроенная автоматизация без кодирования для визуализации и анализа EDS обеспечивает оптимизированный и эффективный рабочий процесс.
Новые функции обеспечивают высокое качество данных и улучшенный пользовательский интерфейс для всех пользователей СЭМ.

Среди них пакет автоматической настройки SEM, функция коррекции трапеции (полезна для измерений EBSD) и реконструкция поверхности в режиме реального времени в формате 3D для наблюдения за топографией поверхности.
Работа с FE SEM серии JSM-IT810 стала проще, чем когда-либо.

Функция автоматического наблюдения и анализа «Neo Action»

Наблюдение с помощью СЭМ и анализ ЭДС можно автоматизировать, просто задав условия анализа и выбрав области для измерения.

Образец:
Хондры в хондрите Юлесберг (L3.6)
Напряжение на земле: 5 кВ

Пакет автоматической настройки SEM

Пакет автоматической настройки SEM (опционально): эта функция использует специальный образец для калибровки увеличения, выравнивания луча и калибровки энергии EDS. Регулярные проверки обеспечивают оптимальное состояние оборудования.

Функция Live-3D

Выберите наш многосегментный полупроводниковый детектор обратного рассеяния электронов (BSE) для создания трёхмерной реконструкции поверхности образца в режиме реального времени.
Просматривайте трёхмерное изображение в режиме реального времени, чтобы оценить топологию образца.

Интеграция ЭЦП

Функциональность нового поколения устраняет барьеры между наблюдением с помощью СЭМ и элементным анализом с помощью ЭДС. Различные методы анализа, такие как точечный, площадной, MAP и линейный, можно зарезервировать непосредственно на экране наблюдения, что позволяет немедленно начать анализ.