Настольный Сканирующий электронный микроскоп JCM-7000 NeoScope™

Настольные сканирующие электронные микроскопы (также известные как настольные СЭМ) используются в самых разных областях, таких как электротехника, электроника, автомобилестроение, машиностроение, химическая и фармацевтическая промышленность. Кроме того, применение СЭМ расширяется, охватывая не только исследования и разработки, но и контроль качества и инспекцию продукции на производственных площадках. В связи с этим растёт спрос на дальнейшее повышение эффективности работы, ускорение и упрощение эксплуатации, а также расширение аналитических и измерительных возможностей. Настольный

Сканирующий электронный микроскоп JCM-7000 разработан на основе ключевой концепции «Простой в использовании СЭМ с удобной навигацией и анализом в режиме реального времени». JCM-7000 включает в себя три инновационные функции: «Zeromag» для плавного перехода от оптического к СЭМ-изображению, «Live Analysis» для поиска элементов в области наблюдения изображения и «Live 3D» для отображения реконструированного в режиме реального времени трёхмерного изображения во время СЭМ-наблюдения.

При размещении JCM-7000 рядом с оптическим микроскопом можно проводить еще более быстрый и подробный анализ инородных материалов и контроль качества.

Обычный СЭМ

При использовании обычного СЭМ сканирование СЭМ и элементный анализ были разделены (не бесшовны).

JCM-7000

Благодаря технологии Zeromag JCM-7000 обеспечивает бесперебойную работу от оптического до сканирующего электронного микроскопа. Кроме того, благодаря функции Live Analysis элементный анализ с помощью EDS можно проводить во время наблюдения за сканирующим электронным микроскопом.

Сравнение с ОМ

Ускорьте свои знания за пределами оптического микроскопа

Анализ загрязняющих веществ

Легко обнаружить посторонний материал.
Легко определить элементный состав.
【Пример】 Анализ черного постороннего материала, прилипшего к поверхности пищевого продукта.

OM-изображение

На ОМ-изображении сложно увидеть распределение белой смазки на поверхности белой гранулы (препарата) и качество ее адгезии.

Изображение SEM (изображение состава в обратнорассеянных электронах)

На снимке СЭМ из того же поля зрения (FOV) видны частицы с разной контрастностью, что указывает на разный состав.

Изображение СЭМ (изображение состава в обратнорассеянных электронах) и результат элементного анализа

Расширение области интереса обеспечивает мгновенный анализ ЭДС в реальном времени с выявлением основных элементов.

Контроль качества

Наблюдать детальные структуры поверхности с высоким разрешением и большой глубиной резкости, что невозможно при ОМ-визуализации.
【Пример】 Наблюдение за распределением смазочного материала на поверхности гранулы (лекарственного препарата)

OM-изображение

На ОМ-изображении сложно увидеть распределение смазки по поверхности гранулы и качество ее адгезии.

Изображение SEM (изображение состава в обратнорассеянных электронах)

Превосходная глубина фокусировки, обеспечиваемая при получении изображений с помощью СЭМ по сравнению с ОМ-изображениями, а также композиционный контраст, обеспечиваемый детектором обратно рассеянных электронов, четко демонстрируют распределение смазки на поверхности гранулы.

Изображение СЭМ (изображение состава в обратнорассеянных электронах) и элементный анализ

Состояние адгезии смазки можно наблюдать при большем увеличении.

Возможности и применение

Функции, позволяющие любому человеку выполнять операции SEM/EDS

Режим нулевого магнита и низкого вакуума

Зеромаг

Увеличьте оптическое изображение, чтобы автоматически переключиться на изображение, полученное с помощью СЭМ!

Режим низкого вакуума

Просмотр прост и не требует предварительной обработки для легко заряжаемых образцов.

Образец: Соль