CRYO-FIB-SEM CryoLameller

Эта система CRYO-FIB-SEM включает в себя столик для охлаждения жидким азотом и механизм переноса замороженных образцов с криоохлаждением, что позволяет готовить образцы для просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ), например, биополимеров.

Механизм переноса образцов имеет встроенную функцию нанесения покрытия методом напыления. Таким образом, эта система CRYO-FIB-SEM может самостоятельно выполнять ряд процессов для создания образцов для просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) из замороженных образцов, включая нанесение проводящего покрытия, формирование защитной пленки и обработку методом ФИП.
Кроме того, использование картриджа CRYO ARM™ от JEOL упрощает прямой перенос образцов в CRYO ARM™ после подготовки образцов для просвечивающего электронного микроскопа.

Функции

Перенос криообразцов с использованием картриджа CRYO ARM™

После прикрепления сетки образца к картриджу больше нет необходимости брать сетку образца пинцетом, что позволяет осуществлять высокопроизводительный перенос образцов.

Высокостабильная стадия охлаждения

Теплопроводный охлаждающий столик уменьшает дрейф столика и вибрацию, вызванные процессом охлаждения, и обеспечивает стабильную подготовку образцов для ТЭМ.

Уникальное устройство JEOL для предотвращения загрязнений

Благодаря этому новому устройству для предотвращения загрязнения снижается количество льда в камере для образцов. Даже при длительной подготовке больших объёмов образцов устройство максимально эффективно подавляет образование льда.

Рабочий процесс крио-CLEM с картриджем CRYO ARM™ может быть реализован с использованием криостата производства Linkam Scientific Instruments* и оптического микроскопа производства Nikon Corporation*. Координаты столика каждого прибора можно связать, что позволяет всегда определять ориентацию и положение образца при передаче его между приборами.