Catalog navigation
Main sections and subcategories
Open catalog

Search

Products meeting the search criteria

Showing 1 to 1 of 1 (1 Pages)

МОДЕЛЬ 1040 Система подготовки образцов TEM NanoMill®

rating
0.00 so'm

МОДЕЛЬ 1040 Система подготовки образцов TEM NanoMill® — решение Fischione Instruments, США для задач направления «Оборудование для подготовки образцов для электронной микроскопии». LABERA.UZ помогает подобрать конфигурацию, подготовить коммерческое п..

Showing 1 to 1 of 1 (1 Pages)