Навигация по каталогу
Основные направления и подкатегории
Открыть каталог

Аналитический микроскоп атомного разрешения JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2

rating
0.00 so'm

  • Бренд: JEOL
  • Код товара:JEM-ARM300F2
  • Наличие:Pre-Order

Усовершенствованная модель “GRAND ARM™2”.
Новая модель “GRAND ARM™2” позволяет проводить наблюдения со сверхвысоким пространственным разрешением и высокочувствительным анализом в широком диапазоне ускоряющих напряжений.

FHP2 — новый полюсный наконечник объектива

Полюсный наконечник объектива FHP оптимизирован для наблюдения со сверхвысоким пространственным разрешением.
Сохраняя эту возможность, форма полюсного наконечника была дополнительно оптимизирована для телесного угла рентгеновского излучения и угла выхода рентгеновских лучей больших двухканальных детекторов (158 мм² .
В результате эффективная чувствительность FHP2 более чем вдвое выше, чем у FHP. Он обеспечивает субангстремное разрешение при картировании элементов методом EDS.

Изображения STEM-HAADF/ABF с атомным разрешением и карты EDS для GaN[211]

Новый корпус

Колонна ТЭМ покрыта кожухом коробчатого типа, который может снизить влияние изменений окружающей среды, таких как температура, поток воздуха, акустический шум и т. д., а также повысить стабильность микроскопа.

Корректор ETA и JEOL COSMO™
Быстрая и точная коррекция аберраций

JEOL COSMO™ использует только две ронхиграммы, полученные с любой аморфной области, для измерения и коррекции аберраций.
Таким образом, система обеспечивает быструю и точную коррекцию аберраций без использования специальных образцов.

Оставить отзыв

Примечание: HTML не поддерживается!
    Плохо           Хорошо