Навигация по каталогу
Основные направления и подкатегории
Открыть каталог

CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) Полевой эмиссионный криоэлектронный микроскоп

rating
0.00 so'm

  • Бренд: JEOL
  • Код товара:JEM-3300
  • Наличие:Pre-Order

CRYO ARM™ 300 II — это криоэлектронный микроскоп, предназначенный для наблюдения образцов, чувствительных к электронному пучку, таких как белки, для анализа отдельных частиц, томографии и микроэлектронной микроскопии. Эта система обеспечивает повышенную стабильность, производительность и простоту использования по сравнению с предыдущим поколением криоэлектронных микроскопов. Более того, это многофункциональная система, способная выполнять все задачи — от скрининга до сбора данных, что обеспечивает большую гибкость в работе на объектах заказчика в соответствии с потребностями учреждения. Эти усовершенствования позволяют получать высококачественные изображения простыми действиями даже тем, кто никогда ранее не работал с электронным микроскопом.

Быстрый сбор

Система JEM-3300 CRYO ARM™ 300 II обеспечивает высокоскоростной сбор данных благодаря сочетанию смещения пучка с точным перемещением предметного столика образца.
Превосходное управление пучком этой системы минимизирует наклон пучка, вызывающий аберрацию в виде комы, даже при смещении пучка.
Это позволяет увеличить производительность без ухудшения качества изображения.

Система нулевой шкалы

Помимо обычного луча, CRYO ARM™ 300 II оснащен уникальным режимом освещения «по Келеру».
Этот режим исключает интерференционные полосы и исключает повреждение электронным пучком областей, не используемых для визуализации, позволяя получать больше изображений с меньшей площади.

Высокоточный привод ступени

CRYO ARM™ 300 II оснащён столиком без вращения. Преимущество этого столика заключается в превосходной позиционной воспроизводимости. Даже при перемещении образцов между колонной микроскопа и хранилищем образцов, вы можете повторно использовать изображения с низким увеличением, которые мы называем «глобальной картой». Это позволяет получить хорошие условия для получения высококачественных данных, поскольку воздействие электронного пучка значительно снижено.

Оставить отзыв

Примечание: HTML не поддерживается!
    Плохо           Хорошо