Уже зарегистрированы?
Введите данные для входа
Регистрация
Если у вас уже есть аккаунт, войдите через форму входа.
Аккаунт успешно создан
Поздравляем! Ваш аккаунт успешно создан.
Теперь вы можете быстрее оформлять заявки, сохранять данные и отслеживать историю обращений.
Если у вас есть вопросы по работе сайта, пожалуйста, свяжитесь с нами.
Выход из аккаунта
Вы вышли из личного кабинета.
Корзина сохранена, и товары снова появятся после следующего входа.
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ)
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) в каталоге LABERA.UZ. Подбор лабораторного оборудования и поставка под заказ.
Уточнить поиск
Не нашли нужное оборудование?
Отправьте запрос — мы подберём решение под ваш проект.
Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT810 Schottky Field Emission
Универсальность и высокое пространственное разрешение сочетаются с автоматизацией в FE-SEM серии JSM-IT810. Встроенная автоматизация без кодирования для визуализации и анализа EDS обеспечивает оптимизированный и эффективный рабочий процесс. Новые фун..
Цена по запросу
Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT710HR Schottky Field Emission
В настоящее время важны не только разрешение и аналитические характеристики нанометрового уровня, но и высокая скорость сбора данных. JSM-IT710HR — это модель четвёртого поколения серии HR* от JEOL, основанной на концепции «сканирующего электронного ..
Цена по запросу
Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT210
JSM-210 — самый компактный стационарный сканирующий электронный микроскоп JEOL. Новый столик оснащен электроприводом по всем пяти осям, что делает его использование более безопасным и быстрым. Кроме того, новая система «Simple SEM» автоматически выпо..
Цена по запросу
Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT510 InTouchScope™
Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) являются незаменимыми инструментами не только для исследований, но и для контроля качества и производства. В этих условиях одни и те же процессы наблюдения необходимо выполнять многократно, поэтому возникла не..
Цена по запросу
Настольный Сканирующий электронный микроскоп JCM-7000 NeoScope™
Настольные сканирующие электронные микроскопы (также известные как настольные СЭМ) используются в самых разных областях, таких как электротехника, электроника, автомобилестроение, машиностроение, химическая и фармацевтическая промышленность. Кроме то..
Цена по запросу
Акустический корпус Neo Comfort FE-SEM
Neo Comfort для оптимальной производительности FE SEM Акустический корпус FE-SEM от JEOL улучшает качество изображения в помещениях с неидеальными условиями. Примерами помех могут служить шум, изменения воздушного потока, магнитные возмущения* и вибр..
Цена по запросу
Вакуумный испаритель IB-29510VET
Вакуумный испаритель IB-29510VET облегчает подготовку образцов для электронных микроскопов. Он предназначен для испарения тонких углеродных пленок, подходящих для наблюдений с высоким разрешением, испарения различных металлических тонких пленок, тене..
Цена по запросу
SM-92100EUVC Эксимерный УФ-очиститель
Функции Уменьшает загрязнение во время наблюдений с помощью электронного микроскопа Очищает образцы и инструменты Гидрофилизирует поверхность образца При наблюдении в электронный микроскоп на поверхности образца могут постепенно образовываться т..
Цена по запросу
DII-29020HD Устройство гидрофилизационной обработки для электронной микроскопии
Долгожданное устройство для гидрофилизации, идеально подходящее для подготовки образцов для TEM/SEM! HD Treatment — это специализированное устройство для гидрофилизации, разработанное для облегчения подготовки образцов для электронной микроскопии. Он..
Цена по запросу
Многолучевая система FIB-SEM JIB-PS500i
JIB-PS500i предлагает три решения для подготовки образцов для ПЭМ. Обеспечивается высокая производительность рабочего процесса — от подготовки образцов до наблюдения в ПЭМ. Использование картриджа с двойным наклоном и держателя для просвечивающего эл..
Цена по запросу
Многолучевая система JIB-4700F
Достижения в разработке новых материалов со сложными наноструктурами предъявляют всё более высокие требования к приборам FIB-SEM, требующим исключительного разрешения, точности и производительности. В ответ на это компания JEOL разработала многолучев..
Цена по запросу
CRYO-FIB-SEM CryoLameller
Эта система CRYO-FIB-SEM включает в себя столик для охлаждения жидким азотом и механизм переноса замороженных образцов с криоохлаждением, что позволяет готовить образцы для просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ), например, биополимеров. Механи..
Цена по запросу