Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT710HR Schottky Field Emission

В настоящее время важны не только разрешение и аналитические характеристики нанометрового уровня, но и высокая скорость сбора данных. JSM-IT710HR — это модель четвёртого поколения серии HR* от JEOL, основанной на концепции «сканирующего электронного микроскопа, позволяющего любому человеку легко получать изображения высокого разрешения».

JSM-IT710HR побуждает пользователей стремиться к новым горизонтам благодаря простоте управления, улучшенным автоматическим функциям и улучшенным характеристикам наблюдения благодаря новому детектору.

*HR = Высокое разрешение

Автоматическое наблюдение: простой СЭМ/ЭДС

Простая функция SEM позволяет проводить автоматические измерения, регистрируя несколько условий одновременно.
Это повышает эффективность рутинной работы.

Live 3D: создает 3D-изображение на месте

Новый многосегментный детектор обратно рассеянных электронов получает изображения обратно рассеянных электронов с четырех направлений одновременно, что позволяет создавать простое трехмерное изображение и отображать его в режиме реального времени.

Изображения, полученные с помощью детектора Quadrant

Образец: Поверхность излома пластика

Живое 3D-изображение

Новый низковакуумный гибридный детектор вторичных электронов (LHSE) ※Дополнительная функция

LHSED, новый детектор низкого вакуума, позволяет вести наблюдение, переключаясь между изображениями, содержащими информацию об излучении света, и топографическими изображениями.

Особенности LHSED

• Улучшенное качество изображения вторичных электронов в низковакуумном режиме в реальном времени
• Получение информации об излучении света
• Переключение между топографическими изображениями и изображениями с информацией об излучении света