Многоцелевой электронный микроскоп JEM-F200

JEM-F200 — это просвечивающий электронный микроскоп с полевой эмиссией, который отличается более высоким пространственным разрешением и аналитической производительностью в сочетании с интуитивно понятным пользовательским интерфейсом для многоцелевого использования.

Наблюдения с высоким разрешением в просвечивающем/сканирующем электронном микроскопе от высоких до низких ускоряющих напряжений

JEM-F200 оснащен электронной пушкой с холодной полевой эмиссией, которая гарантирует высокую стабильность, яркость и высокое энергетическое разрешение (<0,33 эВ). 
Эта электронная пушка эффективно обеспечивает более высокое разрешение изображений, минимизируя хроматические аберрации, возникающие из-за разброса энергии источника электронов.
Кроме того, благодаря использованию более чем 10-летнего опыта JEOL в разработке, нам удалось значительно повысить как механическую, так и электрическую стабильность. 

Высокопроизводительный и высокоточный EDS-анализ

JEM-F200 может быть одновременно оснащён двумя кремниевыми дрейфовыми детекторами (SDD) большой площади, что обеспечивает высокочувствительный анализ.
Большая площадь и высокая чувствительность позволяют проводить эффективный EDS-анализ за гораздо меньшее время и с минимальным повреждением образца.
Кроме того, использование высокоскоростной коррекции дрейфа без потерь с помощью живых STEM-изображений во время EDS-картирования обеспечивает эффективные измерения, одновременно снижая повреждение образца электронным пучком.

Анализ EELS с высоким энергетическим разрешением

Генератор конвергентных электронов (CFEG) JEM-F200 позволяет проводить анализ состояний химических связей и электронной структуры с высоким энергетическим разрешением, превосходящим возможности полевой электронной пушки Шоттки. 
Это стало возможным благодаря использованию холодной полевой электронной пушки, гарантирующей высокое энергетическое разрешение (<0,33 эВ) с использованием метода электронов с высокой электропроводностью (EELS) (опция).

Простота эксплуатации с минимальным стрессом даже для новичков

JEM-F200 оснащен интуитивно понятным пользовательским интерфейсом, делающим акцент на удобстве использования. 
Он предлагает полный набор автоматических функций для ПЭМ и СТЭМ, что упрощает работу даже для новичков.
Кроме того, для облегчения установки и извлечения держателей образцов встроен SPECPORTER™, который обеспечивает безопасную и автоматизированную установку держателей образцов.
Кроме того, предметный столик оснащен приводом Pico, обеспечивающим точное перемещение с точностью до пикометра без использования пьезопривода.
Это обеспечивает широкий диапазон регулировок поля зрения, от визуализации всей сетки образца до визуализации на атомном уровне.