JXA-iHP200F Автоэмиссионный электронно-зондовый микроанализатор (FE-EPMA)

Функции

Электронно-зондовый микроанализатор (ЭЗМА) используется в качестве инструмента для научно-исследовательских разработок и обеспечения качества в различных промышленных областях, таких как сталь, автомобилестроение, электрические компоненты, материалы для аккумуляторов, и его применение все больше расширяется. Кроме того, в академических областях ЭЗМА широко используется в науках о Земле и материаловедении, и можно ожидать будущего вклада в приложения, включая различные передовые исследования, охватывающие исследования материальной энергии, такие как минералы и различные новые материалы. В ответ на это востребовано «более простое» и «быстрое» использование прибора, доступного каждому, при сохранении высокой производительности микроанализа.
JXA-iHP200F и JXA-iSP100 — это интегрированные ЭЗМА с расширенными функциями, удовлетворяющие этим потребностям и достигающие более эффективных операций от наблюдения до анализа.

• ЭПМА — аббревиатура от Electron Probe Microanalyzer (электронно-зондовый микроанализатор).

Параметр

Установка держателя с автоматической загрузкой! Быстро найдите нужную точку наблюдения!

Установка образца и получение оптического изображения держателя образца (изображение «Навигация по столику») выполняется одним щелчком мыши.
Область анализа можно выбрать на изображении «Навигация по столику».

Анализ

Автоматические функции, позволяющие любому человеку получать высококачественные изображения СЭМ. Простой ЭЗМА для быстрого элементного анализа с упрощенной настройкой прибора.

Сочетание функции автофокусировки оптического микроскопа и автоматических функций СЭМ, включающих новую систему с более высокой точностью и более высокой производительностью, позволяет любому пользователю получать высококачественные изображения СЭМ. Функция «Live Analysis» позволяет проводить элементный скрининг во время наблюдения. Функция «Easy EPMA» позволяет начинающим пользователям легко работать с ЭЗМА. Функция «EPMA-XRF» позволяет задавать условия проведения ЭЗМА на основе данных рентгенофлуоресцентного анализа. Интеграция WD/ED обеспечивает эффективное время анализа. Удобство использования дополнительно повышается благодаря интеграции СЭМ, EDS, WDS и оптических изображений.

 

Экран настроек и отображаемые данные Easy EPMA

Анализ EDS в реальном времени

Пример сокращения времени анализа благодаря интеграции WD/ED

 

Интеграция: Один щелчок мыши позволяет настроить комбинацию анализирующих кристаллов на основе элементов, рекомендованных с помощью данных из описанных выше методик.

Самообслуживание

Эффективная калибровка с 18 встроенными стандартными образцами

Новая функция калибровки спектрометра сокращает этапы периодической калибровки и исключает ошибки благодаря использованию встроенных стандартных образцов.
Повышенная эффективность благодаря автоматической калибровке прибора в ночное время.
Функция уведомления о необходимости технического обслуживания обеспечивает своевременное и надлежащее обслуживание.

18 встроенных стандартных образцов для калибровки

Функция уведомления о техническом обслуживании «Инструмент поддержки клиентов»

Внутрилинзовый Шоттки Плюс FEG на JXA-iHP200F

Внутрилинзовый электрод Schottky Plus FEG обеспечивает высокое разрешение при низких ускоряющих напряжениях, что позволяет получать изображения и анализ в сканирующем электронном микроскопе с высоким пространственным разрешением при больших увеличениях. Термоэмиссионные пушки, обеспечивающие большой ток зонда и высокую стабильность в течение длительного времени, подходят для быстрого анализа следовых элементов и анализа нескольких образцов в течение ночи.